在物理實(shí)驗(yàn)中，通常要進(jìn)行多次實(shí)驗(yàn)，如：①“探究串聯(lián)電路電壓規(guī)律”時(shí)換用不同燈泡多測(cè)幾組數(shù)據(jù)；②“測(cè)量物體長(zhǎng)度”時(shí)多次測(cè)量；③“研究平面鏡成像的特點(diǎn)”時(shí)要多次改變物體的位置并確定對(duì)應(yīng)像的位置；④“用電壓表、電流表測(cè)定值電阻”，測(cè)量多組電壓和電流值；⑤研究杠桿平衡條件。其中屬于通過(guò)多次實(shí)驗(yàn)測(cè)量來(lái)探究普遍規(guī)律的實(shí)驗(yàn)是（ ?。?/h1>
【考點(diǎn)】多次測(cè)量 普遍性．
【答案】B
【解答】
【點(diǎn)評(píng)】
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發(fā)布：2024/5/27 14:0:0組卷：4引用：1難度：0.8
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1．多次實(shí)驗(yàn)是科學(xué)研究中常見的做法，但目的略有不同。在“伏安法”測(cè)電阻實(shí)驗(yàn)中就需要用到多次實(shí)驗(yàn)。下列四個(gè)實(shí)驗(yàn)中，多次實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c“伏安法”測(cè)電阻相同的是（ ）
發(fā)布：2024/7/25 8:0:9組卷：4引用：0難度：0.8 -
2．以下探究中多次實(shí)驗(yàn)的目的與其它三個(gè)明顯不同的是（ ?。?/h2>
發(fā)布：2024/9/15 3:0:8組卷：9引用：1難度：0.8 -
3．在物理實(shí)驗(yàn)中，對(duì)物理量進(jìn)行多次測(cè)量，有的是為了通過(guò)多次測(cè)量減小誤差，有的是為了通過(guò)多次測(cè)量尋找規(guī)律。下面四個(gè)實(shí)驗(yàn)中，哪個(gè)是通過(guò)多次測(cè)量減小誤差的（ ）
發(fā)布：2024/10/16 13:0:2組卷：6引用：2難度：0.7
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