1.某自花傳粉的植物顆粒飽滿(A)與皺縮a是一對(duì)相對(duì)性狀,抗?。˙)與感?。╞)是一對(duì)相對(duì)性狀,這兩對(duì)相對(duì)性狀均具有雜種優(yōu)勢(shì)現(xiàn)象。
?
(1)研究人員欲保留此種植物的雜種優(yōu)勢(shì),對(duì)其進(jìn)行紫外線照射處理以期獲得顆粒飽滿和抗病性狀不變但顯性純合均致死的基因,這種育種方法稱為
,其優(yōu)點(diǎn)是
。對(duì)紫外線照射處理后的植株進(jìn)行篩選時(shí)工作量巨大,原因是
。兩對(duì)基因的位置關(guān)系為圖1中的
(填序號(hào))時(shí),經(jīng)上述篩選后得到的此種植物后代均為雜種(不考慮交叉互換)。
?(2)該植物窄葉對(duì)寬葉為顯性,受一對(duì)等位基因D、d控制。莖的粗細(xì)受另一對(duì)等位基因E、e控制,基因型EE表現(xiàn)為粗莖,Ee表現(xiàn)為中粗莖,ee表現(xiàn)為細(xì)莖,等位基因在染色體上的位置如圖2所示。已知電離輻射能使E、e基因所在的染色體片段發(fā)生斷裂,分別隨機(jī)結(jié)合在D、d所在染色體的末端,形成末端易位。僅一條染色體發(fā)生這種易位的植株將高度不育。現(xiàn)將圖中基因型為DdEe的植株在幼苗時(shí)期用電離輻射處理,欲判定該植株是否發(fā)生易位及易位的類型,可通過(guò)觀察該植株自交后代出現(xiàn)的情況進(jìn)行判斷(注:植株后代數(shù)量足夠多,不考慮基因突變和交叉互換)。
若出現(xiàn)
種表型的子代,則該植株沒有發(fā)生染色體易位;
若
,則該植株僅有一條染色體發(fā)生末端易位;
若E、e所在染色體片段均發(fā)生了易位,且e基因連在d基因所在的染色體上,E基因連在D基因所在的染色體上,則后代的表型及比例為:
。